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GLT 高利通 INF1000 非透明膜测厚仪

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GLT 高利通 INF1000 非透明膜测厚仪

高利通生产的INF1000 非透明膜厚测量仪通过间接测量光的相位差确定非透明薄膜两个表面之间的距离，从而计算出非透明薄膜的厚度。

INF1000 非透明膜厚测量仪包括电脑、主机和样品测试台。

电脑连接主机，主机与样品测台由光纤连接。测试时，使用者可以将非透明薄膜样品放置在样品测试台内，电脑的软件可以直接快速地显示其厚度。

INF1000非透明膜厚测量仪精度比现有的机械式非透明膜厚测量仪的精度（约 0.5μm）高一至两个数量级。这是一种独特创新的、高精度、无损伤和快速的非透明薄膜测量方技术。

此处的非透明膜是指对光波长（包括紫外、可见和红外光等）不透明的薄膜材料，如铜箔、铝箔、新能源电池覆有活性碳的电极和隔膜等

项目	指标	备注
测量范围	0.5μm-170μm
分辨率	1μm
准确性	0.50%
数据显示位数	0.001μm
采样速率	100HZ
供电	AC220V/50HZ
能耗	22W
重量	≈13Kg
工作温度	-10℃-50℃
存储温度	-20℃-70℃
工作湿度	≤80%RH