HAMAMATSU滨松  C11011-22W    Optical MicroGauge 膜厚测量系统

HAMAMATSU滨松 C11011-22W Optical MicroGauge 膜厚测量系统

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HAMAMATSU滨松  C11011-22W    Optical MicroGauge 膜厚测量系统

特点

  • 通过红外光度法测量非透明(白色)样品
  • 测量薄膜厚度范围(玻璃):25 μm~2.9 mm
  • 60 Hz 高速测量
  • 可测量层数:10 层
  • 测量带有图案或保护膜的晶圆
  • 长工作距离
  • 映射功能
  • 提供外部控制

详细参数

型号C11011-22W
可测量的薄膜厚度范围(玻璃)25 μm 至 2.9 mm*1
可测量的薄膜厚度范围(硅)10 μm 至 1.2 mm*2
测量重现性(硅)100 nm*3
测量精度(硅)< 500 μm: ±0.5 μm, > 500 μm:±0.1%*3
光源红外 LD (1300 nm)
光斑尺寸约 Φ60 μm*4
工作距离155 mm*4
可测量层数最多 10 层
分析峰值检测
测量时间22.2 ms/point*5
外部控制功能RS-232C,以太网
接口USB 2.0(主机 - 计算机)
电源AC100 V 至 AC240 V,50 Hz/60 Hz
功耗约 50 VA

*1:玻璃折射率当量。
*2:硅折射率当量。
*3:测量硅时的标准偏差。
*4:提供工作距离为 1000 mm 的可选型号。
*5:最短曝光时间。


尺寸

电话:0755-84690029;电话:13682357734;邮箱:2844337877@qq.com;QQ:2844337877

常见问题

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您好,每种规格8吨起订;需求量少,可拨打客服热线:010-888888,让客服协助您进行现货查询。
你们是工厂还是经销商?
您好,我们是大型生产厂家,上市企业。用户遍布全球,三星、海尔、日立等都是我们的长期合作伙伴,可放心采购。
你们的报价是固定的么?
您好,我们的报价由两部分组成,发货当天收盘均价+加工费,由于铝锭价每日都有波动,所以报价会有浮动。
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