GLT   高利通          GL-SPM-D2T     光学薄膜测量仪

GLT 高利通 GL-SPM-D2T 光学薄膜测量仪

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GLT   高利通          GL-SPM-D2T     光学薄膜测量仪


项目指标
波长范围190-800nm
光谱分辨率FWHM0.84nm @577nm@25μm狭缝
杂散光0.06%@532nm/0.045%@785nm
积分时间8ms-15min
电源220V/0.7A
USB数据线USB
光谱仪配置自动配置包括读标定参数
数据输出灰度值随波长或CCD像素变化
操作软件SPEC-GLA600 (高利通)
尺寸450mmx300mmx207mm
重量~6.5Kg
工作温度0-45°C





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