SIGMA    西格玛  OPMFSP-25.4C05-10-5    低散乱基板
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SIGMA 西格玛 OPMFSP-25.4C05-10-5 低散乱基板

SIGMA 西格玛 OPMFSP-25.4C05-10-5 低散乱基板
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SIGMA    西格玛  OPMFSP-25.4C05-10-5    低散乱基板



  • 楔形基板用于希望清除分光镜等反面反射的影响时。
  • CaF2(氟化钙),MgF2(氟化镁)在紫外谱区和红外谱区具有较高的透过性。
  • 表面粗糙度(微观的凹凸)和面型精度(面整体的平坦程度)都进行了高精度加工,基板接近理想平面。
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目录编号W3140
RoHS
CE
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信息
  • 在楔形基板最厚的地方印有指向正面的箭头符号。
注意
  • 低散射基板的两面都没有镀膜。玻璃表面存在2.5%〜4%的反射。
  • 透过楔形基板使用时,光束会有0.5°左右的倾斜。
  • CaF2表面很容易受损,不能用纸擦拭。请使用清洁用压缩气罐去除灰尘。
  • CaF2,MgF2长时间放置在高湿度的环境下时,表面会变得粗糙。不使用时,请保管在自动干燥箱等湿度较低的环境中。
技术指标
材质MgF2
表面粗糙度<0.2nm(Ra)
有效直径外径的90%
类型平行平面
外径 φDφ25.4mm
厚度 t5mm
面型精度λ/10
平行度<5″
表面质量20−10




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