SIGMA 西格玛 OPMFSP-30C05-10-5 低散乱基板
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SIGMA    西格玛 OPMFSP-30C05-10-5    低散乱基板


  • 楔形基板用于希望清除分光镜等反面反射的影响时。
  • CaF2（氟化钙），MgF2（氟化镁）在紫外谱区和红外谱区具有较高的透过性。
  • 表面粗糙度（微观的凹凸）和面型精度（面整体的平坦程度）都进行了高精度加工，基板接近理想平面。

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目录编号W3140
RoHS是
CE否
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信息
  • 在楔形基板最厚的地方印有指向正面的箭头符号。
注意
  • 低散射基板的两面都没有镀膜。玻璃表面存在2.5％〜4％的反射。
  • 透过楔形基板使用时，光束会有0.5°左右的倾斜。
  • CaF2表面很容易受损，不能用纸擦拭。请使用清洁用压缩气罐去除灰尘。
  • CaF2，MgF2长时间放置在高湿度的环境下时，表面会变得粗糙。不使用时，请保管在自动干燥箱等湿度较低的环境中。
技术指标
材质MgF2
表面粗糙度＜0.2nm(Ra)
有效直径外径的90%
类型平行平面
外径 φDφ30mm
厚度 t5mm
面型精度λ/10
平行度＜5″
表面质量20−10





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